ENKELE INDRUKKEN VAN HET CONGRES „POSSIBILITiES and LIMITATIONS of EDUCATIONAL TESTING" (mei 1967)
Samenvatting
Van 16-24 mei werd in Berlijn het Congres „Possibilities and Limitations of Educational Testing" gehouden. De beide auteurs van dit artikel werden door de Universiteit van Amsterdam in staat gesteld aan dit Congres deel te nemen. Zij leverden de volgende bijdragen: R. F. van Naerssen: A signal/noise ratio index used for item selecüon in teachermade tests.